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HY（IC）IC芯片卡彎扭試驗(yàn)機(jī)技 術(shù) 參 數(shù):  
本儀器針對(duì)性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1，國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); *符合以上標(biāo)準(zhǔn)。
外形尺寸：L670 X W380 X H220
儀器重量：70kg
電 壓：AC220V±5%
功 率：35W
測(cè)試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測(cè)試周期：1~9999次 
扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°，總扭曲角度30°
長(zhǎng)邊Z大位移量為20mm（+0.00mm,-1 mm）
長(zhǎng)邊Z小位移量為2mm±0.50mm，
短邊Z大位移量為10mm（+0.00mm,-1 mm）
長(zhǎng)邊Z小位移量為1mm±0.50mm，
夾具安裝尺寸*按照國家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

3、產(chǎn)品用途：
    用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

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3.整機(jī)保修一年，產(chǎn)品終身維護(hù)
4.常年供應(yīng)設(shè)備的易損件及耗品確保儀器能長(zhǎng)期使用
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